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  • RFS-E 03扫描仪近场探头(30 MHz-3 GHz)
  • RFS-E 03型探头底部的电极大小约为 4 x 4 mm。 如此可以定位电缆、…
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  • P1202-4及P1302-4 set EFT脉冲注入探头组
  • EFT场耦合探头组中包含的场源产生电场的和磁场的电快速瞬变脉冲群场。这些场可以准…
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  • MP CI set 连接器和电缆的耦合电感测量套件
  • MP CI set耦合电感测量套件用于确定连接器和电缆的EMC特性。
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  • ICR HV100-27 近场微探头
  • 该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。
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  • ICE1 set 集成电路测试环境
  •  集成电路测试系统是为测量集成电路的辐射或传导干扰而设计的。
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  • XF-B 3-1 磁场探头(30MHz~6GHz)
  • XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。
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  • RF 6 set 近场探头组(30 MHz～3 GHz)
  • RF 6近场探头组包含2个无源磁场探头和2个无源电场探头，用于在研发阶段测量电子…
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  • RFS-E 02扫描仪近场探头(30 MHz-1.5GHz)
  • RFS-E 02型近场探头用于测量总线结构、较大的元器件或者供电表面产生的耦合电…
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  • P1202-2 set ESD磁场耦合
  • P1202-2型场源产生静电放电磁场。用于对集成电路进行静电放电场耦合，以确定其…
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  • MFA-R 0.2-75 微型近场探头（1MHz-1GHz）
  • MFA-R 0.2-75探头使用其极小的探测头直接测量模块上比如IC引脚、精细导…
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  • ICR HV100-6 近场微探头
  • 该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。
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  • H4-IC set EFT脉冲群IC磁场源组
  • H4-IC set型磁场源用于生成电快速瞬变脉冲群磁场。
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