XF-R 3-1型近场探头，用于高分辨率直接检测组件上，比如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器等元器件区域的射频磁场。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
具体指标：
频率范围
30 MHz～6 GHz
分辨率
≈1 mm
探头尺寸
Ø ≈ 3 mm
输出接口
SMA
频率特性 [dBµV] / [dBµA/m]
磁场校正曲线 [dBµA/m] / [dBµV]
电流校正曲线 [dBµA] / [dBµV]
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