P603及P750 set 传导发射测量

       该探头套件用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套件能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用LANGER公司的ICE1集成电路测试环境，可以对被测集成电路进行测试。ChipScan-ESA 芯片扫描软件可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。